標準片校正片韓國MicroPioneer XRF-2020L

標準片可應用各種X射線測厚儀品牌

用于校正測厚儀標準及添加應用程序

韓國XRF-2020測厚儀標準片

銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/銠/鉑/鈀/鋅鎳合金等

各種厚度范圍均可訂制，附帶標準證書

鍍層測厚儀標準片

X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。

是膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品

根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。

以此標準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。

對于PCB、電子元器件，端子連接器，五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。 

X射線測厚儀校正片X-RAY膜厚儀標準片標準片實物如圖所示：

標準片校正片韓國MicroPioneer XRF-2020L

測厚儀標準片

銅，鎳，鉻，鋅，金，銀，錫，鋅鎳，鈀，鉑，銠各種厚度及規(guī)格均可訂制，校準片均附帶證書

韓國微先鋒Micropioneer
XRF-2000測厚儀標準片
可應用各種X射線測厚儀品牌
用于校正測厚儀標準及添加應用程序